特許
J-GLOBAL ID:201603014875308183
発振器
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
竹村 壽
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-222092
公開番号(公開出願番号):特開2014-074642
特許番号:特許第5999597号
出願日: 2012年10月04日
公開日(公表日): 2014年04月24日
請求項(抜粋):
【請求項1】発振回路と、前記発振回路を構成する被テスト回路をテストするテスト回路と、テストモード時にその起動信号が入力され振動子の出力端が接続される前記発振回路の入力端子と、前記テストモード時にテスト電圧が入力され当該振動子の入力端が接続される前記発振回路の出力端子と、前記テスト電圧に応じた前記被テスト回路の出力信号が出力される第1及び第2の出力端子とを具備し、前記テスト回路は、前記出力端子からの入力信号が入力する初段のインバータと、通常動作時に前記インバータの入力端の電位を固定しその貫通電流を防ぐ入力電位固定手段とを有し、当該インバータは、前記インバータの閾値電圧を電源電圧の1/2より小さくすることを特徴とする発振器。
IPC (3件):
G01R 31/28 ( 200 6.01)
, H01L 21/822 ( 200 6.01)
, H01L 27/04 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01R 31/28 V
, H01L 27/04 T
, H01L 27/04 E
引用特許:
出願人引用 (6件)
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特開昭58-196469
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CR発振回路及びそのテスト方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-128051
出願人:日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
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特開平4-188761
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特開平3-201708
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発振回路の検査回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-320351
出願人:松下電器産業株式会社
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-206433
出願人:富士通株式会社
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