特許
J-GLOBAL ID：201603016124411275
プログラム、測定装置及び測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
河野 登夫
, 河野 英仁
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-149842
公開番号（公開出願番号）：特開2014-013445
特許番号：特許第5949229号
出願日： 2012年07月03日
公開日（公表日）： 2014年01月23日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 コンピュータに、
取得した複数の測定値の分布パターンを判定し、
判定した前記測定値の分布パターンに従って、前記取得した複数の測定値から有意な測定値を抽出し、
抽出した前記有意な測定値から、前記複数の測定値に係る測定の結果値を算出する、
処理を実行させることを特徴とするプログラム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
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