特許
J-GLOBAL ID：201603016781451481

半導体装置および計測装置

発明者：
岩佐 洋助

岩佐 洋助 について


出願人/特許権者：
ラピスセミコンダクタ株式会社

ラピスセミコンダクタ株式会社 について


代理人 (3件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  福田 浩志
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-203060
公開番号（公開出願番号）：特開2014-059167
特許番号：特許第6017901号
出願日： 2012年09月14日
公開日（公表日）： 2014年04月03日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 発振子と、 前記発振子に接続された発振回路、前記発振回路の発振周波数に応じた周波数の計時信号を生成する計時回路、温度情報に基づいて前記計時信号の周波数を補正する周波数補正部を有する半導体チップと、 周囲温度を検出し検出した温度を前記温度情報として前記周波数補正部に供給する前記半導体チップとは別体の感温素子および前記発振子と前記発振回路との双方に電気的に接続された前記半導体チップとは別体のキャパシタの少なくとも一方を含むディスクリート素子と、 を単一のパッケージ内に含み、 前記発振子、前記半導体チップおよび前記ディスクリート素子がリードフレームに設けられ、 前記発振子および前記ディスクリート素子が、それぞれボンディングワイヤを介して前記半導体チップに電気的に接続されている 半導体装置。
IPC (4件)：
G04G 3/04 ( 200 6.01) ,  H03B 5/32 ( 200 6.01) ,  H03H 9/02 ( 200 6.01) ,  H01L 37/00 ( 200 6.01)
FI (5件)：
G04G 3/04 ,  H03B 5/32 A ,  H03H 9/02 K ,  H03H 9/02 L ,  H01L 37/00
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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