特許

J-GLOBAL ID：201603017414869638

磁気計測装置

発明者： 三品 尚登
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 鹿島 義雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-088914
公開番号（公開出願番号）：特開2013-217779
特許番号：特許第5888078号
出願日： 2012年04月10日
公開日（公表日）： 2013年10月24日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 少なくとも3つの磁気センサを用いて測定対象物に由来する磁気信号を計測する磁気計測装置であって、 時々刻々送信される各磁気センサからの磁気信号FDi(t)に対しハイパスフィルタ処理により直流変動を除去した直流除去磁気信号FDHi(t)を作成するハイパスフィルタ処理部と、 全磁気センサを対象にして2つずつの磁気センサセットの全ての組み合わせ(i、j)を作り、各磁気センサセットのいずれか一方を被補償センサ(i)、他方を補償センサ(j)の対として、当該被補償センサ(i)の直流除去磁気信号FDHi(t)と当該補償センサ(j)の直流除去磁気信号FDHj(t)との差分を前記磁気センサセットの全ての組み合わせに対して算出することにより、全ての磁気センサセットの組み合わせに対する差分磁気信号(Cij(t)=FDHi(t)-FDHj(t))を算出する差分磁界演算部と、 前記全ての磁気センサセットの組み合わせについての差分磁気信号Cij(t)に対し、時刻tから所定期間Δt前までの最大値と最小値との変動幅であるピーク幅値Cij(t)ppを算出する変動幅算出部と、 前記ピーク幅値Cij(t)ppに基づいて磁気センサセットを選択し、選択された磁気センサセットにおけるいずれかの直流除去磁気信号(FDHi(t)またはFDHj(t))を基礎にして時刻tの背景磁界R(t)を作成する背景磁界作成部と、 各磁気センサの直流除去磁気信号FDHi(t)に対し、前記背景磁界R(t)を用いて背景磁界補償の演算を行う背景磁界補償演算部とを備えたことを特徴とする磁気計測装置。

IPC (1件)：

G01R 33/02 ( 200 6.01)

FI (1件)：

G01R 33/02 X

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 磁気雑音補償方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-040257   出願人：株式会社島津製作所
• 磁力計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-317606   出願人：三菱電機株式会社
• 特開平1-163614