特許
J-GLOBAL ID：201603018768770694

一軸配向をもつ物品の複屈折測定方法及び装置

発明者：
丸喜 勝

丸喜 勝 について

, 
酒井 清和

酒井 清和 について


出願人/特許権者：
王子ホールディングス株式会社

王子ホールディングス株式会社 について


代理人 (1件)： 野口 繁雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-197860
公開番号（公開出願番号）：特開2014-052317
特許番号：特許第5892011号
出願日： 2012年09月07日
公開日（公表日）： 2014年03月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 一軸配向をもつ光透過性物品からなる被測定物を挟んで偏光子と検光子を平行ニコルに配置するとともに、偏光子・検光子の透過軸を被測定物の配向軸に対して特定の方位角θで固定した状態で、偏光子を通して被測定物に多波長成分を含む測定光を照射し、被測定物を透過した測定光を検光子を通してイメージング分光器に入射させて透過光分光スペクトルを取り込む位相差測定装置を用い、以下のステップを備えて被測定物の複屈折を測定する複屈折測定方法。 (S1)計算透過率スペクトルTcal(λ)(=I(θ)/I0(θ))を複数の位相差について予め求めて用意しておくステップ、 (S2)前記位相差測定装置を用いて被測定物の透過光分光スペクトルから透過率スペクトルTobs(λ)(=I(θ)/I0(θ))を求めるステップ、 (S3)ステップS1で用意された計算透過率スペクトルTcal(λ)のうちで透過率スペクトルTobs(λ)に最も近い計算透過率スペクトルTcal(λ)に該当する位相差として位相差Rmを求めるステップ、及び (S4)ステップS3で求められた位相差Rmを被測定物の厚さtで割り算することにより複屈折Δnを Δn=Rm/t として求めるステップ。 ここで、I0は被測定物がないときの検出光強度、Iは被測定物があるときの検出光強度、λは測定光の波長である。
IPC (1件)：
G01N 21/23 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01N 21/23
引用特許：
出願人引用 (5件)
全件表示
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM