位相差測定方法及び装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人特許事務所サイクス
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-100362
公開番号（公開出願番号）：特開2008-256590
出願日： 2007年04月06日
公開日（公表日）： 2008年10月23日
要約：

【課題】散乱、吸収または偏光解消を示す試料の位相差を正確に決定できる方法の提供。【解決手段】光源、偏光子、試料、検光子、及び分光器がこの順に配置されている光学系で測定された分光スペクトルから該試料の位相差を決定する方法であって、該試料の位相差の影響がない該試料の分光スペクトルデータを用意すること、該偏光子の透過軸と該試料の光学軸と該検光子の透過軸との配置を該試料の位相差が検出される配置として測定される1つの分光スペクトルを測定すること、および分光スペクトルデータにより分光スペクトルを補正することを含む方法。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

光源、偏光子、試料、検光子、及び分光器がこの順に配置されている光学系で測定された分光スペクトルから該試料の位相差を決定する方法であって、該試料の位相差の影響がない該試料の分光スペクトルデータを用意すること、該偏光子の透過軸と該試料の光学軸と該検光子の透過軸との配置を該試料の位相差が検出される配置として測定される少なくとも1つの分光スペクトルを測定すること、および前記分光スペクトルデータにより前記分光スペクトルを補正することを含む方法。

IPC (1件)：

G01N 21/23

FI (1件)：

G01N21/23

Fターム (17件)：

2G059AA02 , 2G059BB20 , 2G059DD13 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE05 , 2G059EE12 , 2G059EE17 , 2G059GG03 , 2G059GG10 , 2G059HH02 , 2G059JJ05 , 2G059JJ17 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059KK04 , 2G059MM01

引用特許：

出願人引用 (8件)

特許第2791479号
特許第3777659号
特公平5-18370号公報

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審査官引用 (5件)

複屈折測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-257718 出願人：王子製紙株式会社
複屈折評価装置および複屈折評価方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-322866 出願人：有限会社ユニオプト
液晶表示素子の評価方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-056207 出願人：スタンレー電気株式会社

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