特許

J-GLOBAL ID：201603019153054316

中性子モニター装置及び中性子測定方法

発明者： 久利 修平 ,  高橋 利治 ,  堀池 寛 ,  帆足 英二 ,  村田 勲 ,  土井 幸子
出願人/特許権者： 三菱重工メカトロシステムズ株式会社 ,  国立大学法人大阪大学
代理人 (2件)： 酒井 宏明 ,  高村 順
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-122912
公開番号（公開出願番号）：特開2016-003893
出願日： 2014年06月13日
公開日（公表日）： 2016年01月12日
要約：

【課題】10KeV〜数100KeVのエネルギー領域を持つ中性子の強度を簡単に測定する中性子モニタ装置を提供する。【解決手段】中性子モニター装置100は、PEで形成した半球状の第一本体11、第一本体11の中心に配置したGaNからなる第一試験片12、第一本体11の外側面に設けたCd層13及び内側に設けたB層14からなる第一検出器1と、PEで形成した半球状の第二本体、第二本体の中心に配置したGaNからなる第二試験片、第二本体の外側面に設けたB層及び内側に設けたCd層からなる第二検出器とからなり、10keV〜数100keVのエネルギー領域を持つ中性子強度を両検出器にあるGaの放射能の差で算出する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

水素含有素材で形成した所定半径の球体部分を含む第一本体、前記球体部分の中心に配置したGaを含む第一試験片、前記球体部分の外側面に設けたCd層、及び前記第一試験片の周囲に設けたB層からなる第一検出器と、 水素含有素材で形成され且つ前記第一検出器の球体部分の半径とは異なる半径の球体部分を含む第二本体、前記球体部分の中心に配置したGaを含む第二試験片、前記球体部分の外側面に設けたB層、及び前記第二試験片の周囲に設けたCd層からなる第二検出器と、 からなることを特徴とする中性子モニター装置。

IPC (1件)：

G01T 3/00

FI (1件)：

G01T3/00 G

Fターム (2件)：

2G188BB09 ,  2G188EE29