特許

J-GLOBAL ID：201603021206283996

半導体装置

発明者： 久米 慎太郎 ,  園部 悟
出願人/特許権者： ルネサスエレクトロニクス株式会社
代理人 (1件)： 家入 健
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-173240
公開番号（公開出願番号）：特開2014-032559
特許番号：特許第5909423号
出願日： 2012年08月03日
公開日（公表日）： 2014年02月20日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 MCU(Micro Controller Unit)と、前記MCUを監視する監視回路と、を備え、 前記MCUは、 監視対象ロジック回路と、 前記MCU内の各機能の動作異常を示すエラー信号に応じて各回路をリセット状態にするリセット指示信号を出力するリセット制御回路と、 前記監視対象ロジック回路から第1マスク値が設定される第1制御レジスタと、 前記第1制御レジスタに設定された第1マスク値が前記リセット指示信号の無効化を指定する値の時、前記リセット指示信号によらずリセットを無効にする第1マスク済みリセット信号を出力する第1マスク回路と、 前記リセット指示信号によらずリセットを無効にする前記第1マスク済みリセット信号が入力されている場合にリセットされずに、前記監視対象ロジック回路の定期動作テストの実行結果に関する第1ポート出力データの値に応じて前記MCUがエラー状態であるかを示す外部通知エラー信号を前記監視回路に出力する第1ポート回路と、を備え、 前記監視回路は、 前記外部通知エラー信号が入力され、信号線の断線時には、ハイインピーダンス状態となる第1端子と、 前記外部通知エラー信号を用いて前記MCUの異常検出を行うエラー検出回路と、を備え、 前記監視回路は、前記第1端子がハイインピーダンス状態となっている場合、前記信号線の断線を検出する半導体装置。

IPC (2件)：

G05B 19/048 ( 200 6.01) ,  G05B 23/02 ( 200 6.01)

FI (2件)：

G05B 19/048 ,  G05B 23/02 T

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-278868   出願人：株式会社オートネットワーク技術研究所, 住友電装株式会社, 住友電気工業株式会社
• ポート制御方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-160776   出願人：松下電器産業株式会社

審査官引用 (2件)

• 処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-278868   出願人：株式会社オートネットワーク技術研究所, 住友電装株式会社, 住友電気工業株式会社
• ポート制御方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-160776   出願人：松下電器産業株式会社