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J-GLOBAL ID：201702211706056244   整理番号：17A0234348

修復可能なTMRシステムの現在の入力と健全な状態に基づく状態同期技術

State synchronization technique based on present input and healthy state for repairable TMR systems

著者 (6件)： Yao Rui (College of Automation and Engineering, Nanjing University of Aeronautics and Astronautics) ,  Wu Jun (Beijing Institute of Control Engineering) ,  Wang Meiqun (College of Automation and Engineering, Nanjing University of Aeronautics and Astronautics) ,  Zhong Xueyan (Nanjing Institute of Railway Technology) ,  Zhu Ping (College of Automation and Engineering, Nanjing University of Aeronautics and Astronautics) ,  Liang Jiemei (Beijing Institute of Control Engineering)
資料名： IEICE Electronics Express (Web)  (IEICE Electronics Express (Web))
巻： 13  号： 23  ページ： 20161000(J-STAGE)  発行年： 2016年 
JST資料番号： U0039A  ISSN： 1349-2543  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本稿では,修復可能なトリプルモジュラ冗長システムのリアルタイム性能を向上させるために,PIHS3TMRと呼ばれるリアルタイムの状態同期アプローチを提案した。筆者等のアプローチでは,修復したモジュールの他のモジュールとの状態同期は,システムの現在の入力と障害のないモジュールの現在の状態に従って直接状態を構築することにより実行する。実験結果は,ハードウェアリソースのオーバーヘッドと最大周波数低下が非常に小さく,1クロックサイクルで状態同期を得ることができることが分かった。これは,Lion2 CPUの最先端の状態復元技術より数百倍高速である。また,同期プロセス中にシステムの機能に中断や遅延はない。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *冗長システム ,  時間 ,  同期 ,  *同期制御 ,  周波数同期 ,  *FPGA ,  ソフトエラー
準シソーラス用語： リアルタイム ,  健康状態

著者キーワード (4件)： state synchronization ,  present input ,  healthy state ,  TMR system

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

引用文献 (16件)：

• [1] Z. Yanget al.: “A new automatic method for testing interconnect resources in FPGAs based on general routing matrix,” IEICE Electron. Express 12 (2015) 20150747 (DOI: 10.1587/elex.12.20150747).
• [2] M. Ebrahimiet al.: “Low cost scan-chain-based technique to recover multiple errors in TMR systems,” IEEE Trans. Very Large Scale Integr. (VLSI) Syst. 21 (2013) 1454 (DOI: 10.1109/TVLSI.2012.2213102).
• [3] K. S. Morganet al.: “A comparison of TMR with alternative fault-tolerant design techniques for FPGAs,” IEEE Trans. Nucl. Sci. 54 (2007) 2065 (DOI: 10.1109/TNS.2007.910871).
• [4] S. Y. Yu and E. J. McCluskey: “On-line testing and recovery in TMR systems for real-time applications,” ITC Dig. Tech. Papers (2001) 240 (DOI: 10.1109/TEST.2001.966639).
• [5] J. Losq: “A highly efficient redundancy scheme: self-purging redundancy,” IEEE Trans. Comput. C-25 (1976) 569 (DOI: 10.1109/TC.1976.1674656).

タイトルに関連する用語 (2件)： 修復 ,  TMR