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J-GLOBAL ID：201702213327425409   整理番号：17A1449644

3D IC内ダイ間配線に流す静的電流による抵抗断線検出用検査回路の製造ばらつきの影響調査

著者 (4件)： 岡本匡史 (徳島大) ,  四柳浩之 (徳島大) ,  橋爪正樹 (徳島大) ,  LU Shyue-Kung (国立台湾科技大)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2017  ページ： ROMBUNNO.9-7  発行年： 2017年09月16日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *集積回路 ,  *配線 ,  *電流測定 ,  *切断 ,  *電気故障 ,  *電子回路 ,  *分散【variance】 ,  電気抵抗 ,  感度 ,  性能 ,  能力
準シソーラス用語： *ダイ【ICチップ】 ,  *三次元積層IC ,  *集積回路配線 ,  *断線 ,  *検出回路 ,  *製造ばらつき ,  検出能力

分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (7件)： 3D ,  IC ,  ダイ ,  断線 ,  検査 ,  製造ばらつき ,  調査