Wang Qianqiong について
School of Microelectronics, Xidian University について
Liu Hongxia について
School of Microelectronics, Xidian University について
Chen Shupeng について
School of Microelectronics, Xidian University について
Wang Shulong について
School of Microelectronics, Xidian University について
Fei Chenxi について
School of Microelectronics, Xidian University について
Zhao Dongdong について
School of Microelectronics, Xidian University について
Hejishu(Yingwenban) について
照射線量 について
酸化物 について
NMOS構造 について
絶縁材料 について
電荷 について
FET【トランジスタ】 について
ケイ素 について
表面準位 について
放射線量 について
絶縁体 について
バックゲート について
低線量率 について
線量率効果 について
閾値電圧シフト について
nMOSFET について
閾値電圧 について
絶縁体(SOI)上のシリコン について
しきい値電圧 について
線量率効果 について
界面状態 について
トランジスタ について
ゲート について
SOI について
NMOS について
しきい値電圧 について