Sant Saurabh について
Department of Electrical Engineering and Information Technology, ETH Zuerich, Zuerich, Switzerland について
Moselund Kirsten について
IBM Research-Zurich, Rueschlikon, Switzerland について
Cutaia Davide について
IBM Research-Zurich, Rueschlikon, Switzerland について
Schmid Heinz について
IBM Research-Zurich, Rueschlikon, Switzerland について
Borg Mattias について
IBM Research-Zurich, Rueschlikon, Switzerland について
Riel Heike について
IBM Research-Zurich, Rueschlikon, Switzerland について
Schenk Andreas について
Department of Electrical Engineering and Information Technology, ETH Zuerich, Zuerich, Switzerland について
IEEE Transactions on Electron Devices について
ウエハ【IC】 について
ケイ素 について
横型 について
ヒ化インジウム について
P型半導体 について
トンネル効果 について
FET【トランジスタ】 について
キャリア捕獲 について
シミュレーション について
実験 について
伝送特性 について
性能指数 について
ゲート【半導体】 について
結合 について
ナノワイヤ について
モデリング について
伝導バンド について
温度依存性 について
FWHM について
電子遷移 について
バンドギャップ について
ケイ素基板 について
TFET について
界面トラップ について
サブ閾値スイング について
静電結合 について
BTBT について
半導体集積回路 について
トランジスタ について
Si について
集積 について
横型 について
InAs について
トンネルFET について
界面トラップ について
シミュレーション について
研究 について