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J-GLOBAL ID：201702215327537966   整理番号：17A1432836

MXene膜のX線回折における{110}反射:非標準配向による誤った解釈と測定【Powered by NICT】

The {110} reflection in X-ray diffraction of MXene films: Misinterpretation and measurement via non-standard orientation

著者 (2件)： Ghidiu Michael (Department of Materials Science and Engineering, Drexel University, Philadelphia, Pennsylvania) ,  Barsoum Michel W. (Department of Materials Science and Engineering, Drexel University, Philadelphia, Pennsylvania)
資料名： Journal of the American Ceramic Society  (Journal of the American Ceramic Society)
巻： 100  号： 12  ページ： 5395-5399  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0253A  ISSN： 0002-7820  CODEN： JACTAW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： MXene膜と粉末の粉末X線回折における{110}反射の消失はフレークの再積層のせん断または一般的な障害を示すと主張されている。ここでは不正確であると実験的正当化を提供するために,これを示した。このピークの消失は,この試料集合組織と配向との組合せから生じた。さらに,提案手法では,関連する反射はMXene膜の大部分の報告に存在しない場合,単位格子パラメータを推定するための簡単な方法を提供する。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： フレーク ,  *X線回折 ,  集合組織 ,  粉体 ,  格子定数
準シソーラス用語： 粉末X線回折 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 障害 ,  MAX相 ,  ナノ材料 ,  構造 ,  X線法

分類 (1件)： セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

タイトルに関連する用語 (4件)： MXene ,  X線回折 ,  標準 ,  配向