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J-GLOBAL ID:201702215458127465   整理番号:17A1604062

パルス電着技術で異なる基板上に成長させたInSb薄膜の研究

Study of InSb thin films grown on different substrates by the pulsed electrodeposition technique
著者 (2件):
資料名:
巻: 28  号: 18  ページ: 13716-13726  発行年: 2017年09月 
JST資料番号: W0003A  ISSN: 0957-4522  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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パルス電着技術で4種類の異なる基板にストイキオメトリックInSb薄膜を制作した。InSb薄膜成長に使用した電気化学浴は,InCl3,SbCl3,クエン酸,クエン酸ナトリウムの混合である。基板は銅,真鍮,ステンレススチール,フッ素ドープ酸化スズの4種類である。すべての基板でストイキオメトリックInSbはデポジットされた。デポジットされたInSb薄膜のストイキオメトリは電気化学浴中のIn/Sbイオン比に強く依存している。最もストイキオメトリの良い膜成長の電気化学浴は,0.05M InCl3,0.04M SbCl3,0.30Mクエン酸,0.20Mクエン酸ナトリウムの水溶液である。Raman分光でInSb薄膜は横光学フォノンモード(TO)と縦光学フォノンモード(LO)でそれぞれ178と189cm-1のピークを示す。XRDの結果,真鍮基板に成長した薄膜がInとSb元素を持たない単相InSbである。
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固体デバイス材料 
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