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J-GLOBAL ID：201702215546906956   整理番号：17A1708201

ポリスチレンコア粒子上でのシリカシェルの分布粗さの定量化のためのツールとしてのTSEMベース輪郭解析【Powered by NICT】

TSEM-based contour analysis as a tool for the quantification of the profile roughness of silica shells on polystyrene core particles

著者 (6件)： Sarma Dominik (Chemical and Optical Sensing Division 1.9, Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Richard-Willstaetter-Strasse 11, 12489 Berlin, Germany) ,  Mielke Johannes (Surface Analysis and Interfacial Chemistry Division 6.1, Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Unter den Eichen 44-46, 12203 Berlin, Germany) ,  Sahre Mario (Surface Modification and Measurement Technology Division 6.7, Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Unter den Eichen 44-46, 12203 Berlin, Germany) ,  Beck Uwe (Surface Modification and Measurement Technology Division 6.7, Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Unter den Eichen 44-46, 12203 Berlin, Germany) ,  Hodoroaba Vasile-Dan (Surface Analysis and Interfacial Chemistry Division 6.1, Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Unter den Eichen 44-46, 12203 Berlin, Germany) ,  Rurack Knut (Chemical and Optical Sensing Division 1.9, Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Richard-Willstaetter-Strasse 11, 12489 Berlin, Germany)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 426  ページ： 446-455  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高分子コアとシリカシェルを有するコア-シェル(CS)粒子を材料と(生物)分析科学において重要な役割を果たす。信頼できる合成法の確立に加えて,包括的な粒子キャラクタリゼーションであるアーキテクチャ,プロトコル,バッチ間再現性と客観的性能評価に必須である。サイズ,サイズ分布,シェル厚さとテクスチャー,表面積と粗さや材料組成に関して粒子の特性化は一般的に種々の分析法を用いて実施され,しばしば異なる試料である。我々のアプローチは,1つの十分な統計的信頼と単一機器への同一試料と相補的なデータセットを得るためにEDX検出器を用いた二重モードTSEM/SEM装置を用いた。このプロトコルは概観画像から採用した様々な粒子のサイズ,サイズ分布,シェル厚さに関する情報を明らかにしたが,視野(FOV)及び高分解能EDX分析の増加した電場はシェル集合組織と元素組成に関する詳細な情報が得られた。画像解析ツールは,個々のビーズからのCS粒子の分布粗さを導出し,定量化するために開発した。A FMから表面粗さデータとの比較は,一連の粒子の粗さで同様の傾向を示した。滑面および粗面への信頼性のある分類を提案し,異なる粒子バッチ内の粗さの変化を系統的に追跡した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： コアシェル構造 ,  キャラクタリゼーション ,  高分解能 ,  滑面 ,  集合組織 ,  *プロトコル ,  再現性 ,  粗面 ,  粒状材 ,  信頼性 ,  画像 ,  画像分析 ,  性能評価 ,  エネルギー分散X線分光分析
準シソーラス用語： サイズ分布 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： コア-シェル粒子 ,  電子顕微鏡観察 ,  伝送モード ,  Roughness ,  画像解析

分類 (1件)： 医用素材  (GA05040H)

タイトルに関連する用語 (6件)： 分布 ,  粗さ ,  定量化 ,  ツール ,  輪郭 ,  解析