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J-GLOBAL ID：201702216292827325   整理番号：17A1276503

アナログ回路部品の劣化を考慮した確率的行動モデリングを変化および【Powered by NICT】

Variation- and degradation-aware stochastic behavioral modeling of analog circuit components

著者 (4件)： Taddiken Maike (Institute of Electrodynamics and Microelectronic (ITEM.me), University of Bremen, Germany) ,  Hillebrand Theodor (Institute of Electrodynamics and Microelectronic (ITEM.me), University of Bremen, Germany) ,  Paul Steffen (Institute of Electrodynamics and Microelectronic (ITEM.me), University of Bremen, Germany) ,  Peters-Drolshagen Dagmar (Institute of Electrodynamics and Microelectronic (ITEM.me), University of Bremen, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： SMACD  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プロセス変動とエージング効果は最新技術ノードにおける集積回路の性能に影響する。本論文では,回路性能へのプロセス変動,加齢及び操作パラメータの影響を表現するために行動モデルを構築する方法を提案した。性能の変動性は分布関数を用いて表現されるが,応答表面モデル(RSM)を用いて,操作パラメータに分布のモーメントの依存性を記述した。他の手法と比較して,複雑さを低減するRSMに含まれなければならない少ないパラメータ。これは,行動レベルに及ぼす加齢分析を伴う高速モンテカルロ分析を可能にする。法は電圧基準回路と変動性の良好な表現を示す演算増幅器を評価し,シミュレーション時間の非常に良好な高速化に達した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 高速度 ,  集積回路 ,  演算増幅器 ,  分布関数 ,  *アナログ回路 ,  モンテカルロ法 ,  回路特性 ,  シミュレーション ,  電圧 ,  高速化 ,  モーメント
準シソーラス用語： 基準回路 ,  行動モデル ,  操作パラメータ ,  プロセス変動 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 増幅回路  (NC05040U)

タイトルに関連する用語 (4件)： アナログ ,  回路部品 ,  確率 ,  行動モデリング