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J-GLOBAL ID：201702216534032028   整理番号：17A1273366

ストリークカメラを用いたIGBT破壊機構解析のための直接光放出モニタリング【Powered by NICT】

Direct photo emission monitoring for analysis of IGBT destruction mechanism using streak camera

著者 (7件)： Matsudai Tomoko (Storage & Electronic Devices Solutions Company, Toshiba Corporation, 1-1-1, Shibaura, Minato-ku, Tokyo 105-8001, Japan) ,  Endo Koichi (Storage & Electronic Devices Solutions Company, Toshiba Corporation, 1-1-1, Shibaura, Minato-ku, Tokyo 105-8001, Japan) ,  Ogura Tsuneo (Storage & Electronic Devices Solutions Company, Toshiba Corporation, 1-1-1, Shibaura, Minato-ku, Tokyo 105-8001, Japan) ,  Matsumoto Toru (System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan) ,  Uchiyama Koro (System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan) ,  Niikura Fuminori (System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan) ,  Koshikawa Kazushige (System Division, Hamamatsu Photonics K.K., Shizuoka, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ISPSD  ページ： 135-138  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,ストリークカメラを用いたIGBT(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)のためのアバランシェ動作中の直接光電子放出モニタリングを提案した。IGBTは,オン状態損失とスイッチング損失の間のトレードオフ関係を改善するために開発した。また信頼性向上は非常に重要な問題である。信頼性を増強するために,IGBTのアバランシェ現象を調べ,直接ことが重要である。アバランシェ動作中,可視光は装置から放出されることが知られている。これはIGBTのUIS(非減衰誘導スイッチング)条件の下に雪崩現象からの光電子放出を直接観察するのに成功するための研究である。もエッジ終端地域における移動発光領域を測定した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 可視光 ,  *発光 ,  スイッチング ,  光電子放出 ,  信頼性 ,  *IGBT ,  スイッチング損失
準シソーラス用語： アバランシェ降伏 ,  信頼性向上 ,  オン状態 ,  *ストリークカメラ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  電力変換器  (NB08030B)

タイトルに関連する用語 (6件)： ストリークカメラ ,  IGBT ,  破壊 ,  解析 ,  光放出 ,  モニタリング