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J-GLOBAL ID：201702216635210984   整理番号：17A1778244

安全マージンを適用したへの機能的ブロードサイドテスト【Powered by NICT】

Close-to-Functional Broadside Tests With a Safety Margin

著者 (1件)： Pomeranz Irith (School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 36  号： 12  ページ： 2139-2143  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近い機能的動作条件を維持するスキャンベース試験は,遅延故障の過剰試験を避けるために重要である回避試験脱出に必要な故障検出率を達成した。機能的動作条件に測定可能な近接性のために,部分的機能ブロードサイドテストは,スキャンイン状態と到達可能状態間の既知のHamming距離を持っている。オーバテストの議論に重要であることをもう一つのパラメータがスイッチング動作である。組合せ計量,減少したスイッチング活性はスキャンイン状態と到達可能状態の間のより高いH amming距離を可能にする安全余裕とされるを示唆した。計量は100%またはそれ以下の値が優先されるように定義した。計量が発生する試験可能にするのに十分に柔軟性であることを実証するために,本論文では,計量を用いたテスト生成法を述べた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： Hamming距離 ,  柔軟性 ,  故障検出 ,  スイッチング ,  *安全性
準シソーラス用語： テスト生成 ,  近接性 ,  遅延故障 ,  *安全マージン , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (3件)： 安全マージン ,  ブロードサイド ,  テスト