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J-GLOBAL ID:201702217035076425   整理番号:17A0474645

太陽光MCTベースn-on-p赤外FPA検出器における「漏れ」と「非漏れ」FPA要素の光応答に及ぼす高導電性n型抗脱バイアス層の影響【Powered by NICT】

Impact of high-conductivity n-type anti-debiasing layer on the photoresponse of “leaking” and “non-leaking” FPA elements in photovoltaic MCT-based n-on-p infrared FPA detectors
著者 (7件):
資料名:
巻: 81  ページ: 223-227  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0184A  ISSN: 1350-4495  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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水銀-カドミウム-テルルをベースにした光起電力n-on-p赤外FPA検出器の焦点面アレイ(FPA)素子の光応答に及ぼす高導電性n型抗脱バイアス層(ADL)の影響を両タイプのFPA素子を用いて測定し,まず,「漏れ」と「漏れの無い」アレイフォトダイオードとFPA素子の測定した電流-電圧特性と,第二に,空間的光応答プロファイルの考慮により分析した。吸収体層/ADL界面でのp-n接合を持つ寄生ダイオードの最も顕著な症状は「漏れ」FPA素子により生成された負の光応答の出現である。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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赤外・遠赤外領域の測光と光検出器 

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