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J-GLOBAL ID:201702217907793302   整理番号:17A0885678

フォールトトレラントネットワークオンチップのための多層診断【Powered by NICT】

Multi-Layer Diagnosis for Fault-Tolerant Networks-on-Chip
著者 (6件):
資料名:
巻: 66  号:ページ: 848-861  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0233A  ISSN: 0018-9340  CODEN: ICTOB4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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ネットワークオンチップ操作における出現する故障を許容するために,診断技術は,故障検出と局在化のために使用した。様々なネットワーク層について,多様な診断法は,ネットワーク性能(例えば,同時に動作すると規則的なネットワーク運用の遂行による)へのそれらの影響と診断結果の品質の点で異なる使用することができる。本論文では,ネットワークオンチップの異なるネットワーク層の診断技術は,多層溶液に組み合わせることができるかを示した。層の間の相互作用に用いるクロスレイヤ情報の流れを示し,層特異的診断と比較して組合せの得られた利益を示した。評価のために,診断品質および層特異的技術とその多層組合せの全体設計空間を探索するためのシステム性能に及ぼす影響を調べた。単層診断と比較して四の因子によるシステム性能の増加を提供するパレート最適組合せを同定した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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計算機網  ,  半導体集積回路 
タイトルに関連する用語 (4件):
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