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J-GLOBAL ID：201702224291083934   整理番号：17A1036297

欠陥クラスタTDDBにおける2段階確率プロットによる寿命解析に関する打ち切りの影響【Powered by NICT】

Impacts of censoring on lifetime analysis by two-step probability plot in defect clustered TDDB

著者 (1件)： Yokogawa Shinji (Info-powered Energy System Research Center, The University of Electro-communications, Tokyo, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IRPS  ページ： DG-3.1-DG-3.6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 欠陥クラスタリング条件を持つFEOL/MOL/BEOL時間依存絶縁破壊(TDDB)の寿命分布特性は,最近提案された二段階確率プロットを用いて調べた。この方法は欠陥クラスタリング概念に基づいた寿命分布関数のパラメータを推定するために提案し,二個の形状パラメータを持っている。第一段階では,クラスタリングパラメータは,提案のチャートに線形化法により推定した。第二段階では,形状とスケールパラメータをプロットの傾きと切片により推定した。打ち切りの影響を推定量のモンテカルロシミュレーション(MCS)と平均二乗誤差(MSE)を用いて統計的に調べた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 線形化法 ,  時間依存性 ,  寿命分布 ,  スケールパラメータ ,  絶縁破壊 ,  分布関数 ,  推定量 ,  *打切
準シソーラス用語： 平均二乗誤差 ,  モンテカルロシミュレーション ,  形状パラメータ ,  BEOL ,  FEOL ,  *TDDB , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (8件)： 欠陥クラスタ ,  TDDB ,  段階 ,  確率 ,  プロット ,  寿命 ,  解析 ,  打ち切り