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J-GLOBAL ID:201702226402649799   整理番号:17A1170545

高速窒化シンチレータ構造のためのGaNバッファ層のルミネセンス特性の改善【Powered by NICT】

Improvement of luminescence properties of GaN buffer layer for fast nitride scintillator structures
著者 (5件):
資料名:
巻: 464  ページ: 221-225  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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高速シンチレーション構造への応用に関し,GaNバッファ層成長の技術を最適化した。十μsまでの減衰時間をもつ黄色バンド(YB)と呼ばれる深い欠陥ルミネセンスはこれらの応用のために望ましくないであり抑制すべきであるか,または少なくともYB最大に励起子の強度の比はかなり増加しなければならない。必要な光ルミネセンス特性をサファイア基板上に核形成と合体層の成長パラメータの最適化によって達成された。NH_3流れの減少,コアレッセンス温度の減少,核形成時間の増加と核形成圧力は構造の改善とバッファ層のルミネセンス特性に導くことを示した。結果はexcitonic/YBルミネセンス強度の顕著な増加があることを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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著者キーワード (4件):
分類 (1件):
分類
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半導体薄膜 
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