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J-GLOBAL ID:201702226949494234   整理番号:17A0502601

AlドープZnO/Y2O3多層膜の熱電気的特性化と構造特性化

Thermoelectric and Structural Characterization of Al-Doped ZnO/Y2O3 Multilayers
著者 (8件):
資料名:
巻: 17  号:ページ: 1616-1621  発行年: 2017年03月 
JST資料番号: W1351A  ISSN: 1533-4880  CODEN: JNNOAR  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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N型半導体であるZnOは様々な用途に利用されている。さらに,ZnOは光電気用の良好な候補であると認められている。本研究では,Aloを0.2%ドープしたZn0.98Al0.02O(AZO)の熱電気的性能と構造に及ぼすY2O3ナノ層の影響を調べた。AZO/Y2O3多層膜はパルスレーザ蒸着によりAl2O3単結晶上に作製した。500nmのAZO膜中に薄いY2O3ナノ層を挿入した。最良の性能を示した多層膜のSeebeck係数はS=-82kV/K,電気伝導率はσ=48S/cm,推定した力率(S2σ)は600Kで約0.03×10-3Wm-1K-2であった。300Kにおける熱伝導率は10.03Wm-1K-1で,バルクAZOの約1/3であった。
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分類 (1件):
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電気的性質 
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