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J-GLOBAL ID：201702227565045383   整理番号：17A0688053

温度可変pMAIRS・放射光X線回折法に基づくポリアミド酸エステル膜の熱イミド化過程における三次元配向評価

著者 (3件)： 田中和幸 (東京工大 大学院) ,  石毛亮平 (東京工大 大学院) ,  安藤慎治 (東京工大 大学院)
資料名： 高分子学会予稿集(CD-ROM)  (高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))
巻： 66  号： 1  ページ： ROMBUNNO.1C12  発行年： 2017年05月15日 
JST資料番号： Z0703C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線回折 ,  *高分子膜 ,  *イミド化 ,  *分子配向 ,  *ポリアミド酸 ,  分子鎖 ,  薄膜 ,  スメクチック相 ,  温度依存性 ,  屈曲性重合体 ,  分子運動 ,  伸縮振動【分子】 ,  密度汎関数法
準シソーラス用語： 屈曲性高分子 ,  広角X線回折 ,  *配向【分子】 ,  配向度 ,  配向膜 ,  分子運動性 ,  *放射光X線回折

分類 (2件)： その他の高分子材料  (YH07150C) ,  高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

タイトルに関連する用語 (8件)： 可変 ,  放射光X線回折 ,  ポリアミド酸 ,  エステル ,  イミド化 ,  過程 ,  配向 ,  評価