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J-GLOBAL ID：201702227644065149   整理番号：17A1432314

一次元イオン化拡張Hubbardモデルの低光励起状態

Low-lying Photoexcited States of a One-Dimensional Ionic Extended Hubbard Model

著者 (3件)： YOKOI Kota (Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN) ,  MAESHIMA Nobuya (Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN) ,  HINO Ken-ichi (Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
資料名： Journal of the Physical Society of Japan  (Journal of the Physical Society of Japan)
巻： 86  号： 10  ページ： 104708.1-104708.6  発行年： 2017年10月15日 
JST資料番号： G0509A  ISSN： 0031-9015  CODEN： JUPSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 半充填一次元(1D)イオン化拡張Hubbardモデルの低光励起状態の性質を調べた。完全およびLanczos対角化法を用いることによる数値解析から,イオン化相において,電荷移動ギャップ以下に低い光励起状態が存在することを示した。1D反強磁性(AF)ハイゼンベルグモデルに対する数値データとの比較の結果として,小さな交流ポテンシャルΔに対して,これらの低光励起状態はスピン励起であることを見いだした。これは,以前の解析的研究[Katsuraら,Phys.Rev.Lett.103,177402(2009)]と一致する。Δが増すに従って,1Dイオン化拡張Hubbardモデルのスペクトル強度は,1D AFハイゼンベルグモデルの強度から急速に外れ,また,この外れは,中性-イオン化転移点付近での素励起である中性-イオン化磁壁によるものであることを明らかにした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *Hubbard模型 ,  *光ポンピング ,  励起状態 ,  *低次元系 ,  イオン化 ,  数値解法 ,  電荷移動 ,  反強磁性 ,  Heisenberg模型 ,  励起 ,  スペクトル線強度 ,  磁壁
準シソーラス用語： *光励起 ,  *一次元系 ,  Lanczos法 ,  スピン励起 ,  スペクトル強度 ,  素励起

分類 (1件)： 光伝導,光起電力  (BM03050J)

引用文献 (46件)：

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• S. Uchida, T. Ido, H. Takagi, T. Arima, Y. Tokura, and S. Tajima, Phys. Rev. B 43, 7942 (1991).
• L. Baldassarre, A. Perucchi, D. Nicoletti, A. Toschi, G. Sangiovanni, K. Held, M. Capone, M. Ortolani, L. Malavasi, M. Marsi, P. Metcalf, P. Postorino, and S. Lupi, Phys. Rev. B 77, 113107 (2008).
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• G. Yu, C. H. Lee, A. J. Heeger, N. Herron, and E. M. McCarron, Phys. Rev. Lett. 67, 2581 (1991).

タイトルに関連する用語 (4件)： イオン化 ,  拡張 ,  Hubbardモデル ,  光励起