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J-GLOBAL ID:201702228309674918   整理番号:17A1498835

多重分散関数の組合せを用いたGe_30 xSb_x Se_70膜の分光学的偏光解析法による評価【Powered by NICT】

Spectroscopic ellipsometry characterization of Ge30-xSbx Se70 films using combinations of multiple dispersion functions
著者 (8件):
資料名:
巻: 147  ページ: 59-71  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0251A  ISSN: 0030-4026  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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角度可変分光偏光解析法(VASE)を用いて,0.7eVから5eVまでの光子エネルギーのためのUV-vis-NIR(近赤外)スペクトル領域におけるGe_30 xSb_x Se_70(0 5 10 15および25)膜の光学的性質を研究した。すべての膜の誘電体の虚数部のスペクトルはいくつかのピークによって特徴づけられる。発振器の線形結合の二群は,これらのスペクトルの解析に用いた。最初の組合せは,一つ以上のGauss振動子(TL+G)Tauc-Lorentz振動子から構成されている。第二Cody-Lorentz振動子は1つ以上のGauss(CL+G)発振器を用いた。モデルの両群は非常に似た挙動と実験データに正確にフィットする。しかし第二群モデルの方が,吸収開始領域での誘電関数を記述するにはより正確であった。モデルのパラメータ(Lorentz振動子振幅,共鳴エネルギー,振動子幅,光学的バンドギャップおよびUrbachエネルギー)上のSb含有量の影響を検討した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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光導波路,光ファイバ,繊維光学  ,  固体レーザ 
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