文献

J-GLOBAL ID：201702229876515374   整理番号：17A0635632

Avogadro定数の測定のための改良された光干渉計を用いた²⁸Siを多く含む球の体積測定

Volume measurements of ²⁸Si-enriched spheres using an improved optical interferometer for the determination of the Avogadro constant

著者 (4件)： KURAMOTO Naoki (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  AZUMA Yasushi (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  INABA Hajime (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  FUJII Kenichi (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
資料名： Metrologia  (Metrologia)
巻： 54  号： 2  ページ： 193-203  発行年： 2017年04月 
JST資料番号： B0698A  ISSN： 0026-1394  CODEN： MTRGAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ケイ素結晶のX線結晶密度測定法によるAvogadro定数の決定について述べる。この目的のために²⁸Siを高濃度で含むケイ素結晶から製造された二つの1kgケイ素球の体積を精密に測定することが要求される。そのためには,表面層の影響を考慮しなければならない。その影響は,改良された分光エリプソメータを用いてなされ,その結果を考慮して表面層を除いた球のコア体積を決定した。得られた定数は,国際Avogadro調整プロジェクトによって組織された枠組みとしての2015年のAvogadro定数の決定に用いられた。ここでは,使われた測定法,装置,データ分析法,不確実性評価の方法について述べる。

シソーラス用語： ケイ素同位体 ,  干渉計 ,  *球 ,  *体積測定 ,  *物理定数 ,  デンシトメトリー ,  X線診断 ,  表層 ,  エリプソメータ ,  *ケイ素 ,  *Avogadro定数 ,  ケイ素28 ,  光干渉計 ,  画像技術
準シソーラス用語： X線密度測定法

分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (4件)： Avogadro定数 ,  光干渉計 ,  球 ,  体積測定