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J-GLOBAL ID：201702230254226057   整理番号：17A1722353

スクリーニング限界欠陥のための埋込計装ツールボックスと生産のための異常値【Powered by NICT】

Embedded instrumentation toolbox for screening marginal defects and outliers for production

著者 (4件)： Odintsov Sergei (Department of Computer Systems, Tallinn University of Technology, Tallinn, Estonia) ,  Jutman Artur (Testonica Lab, Tallinn, Estonia) ,  Devadze Sergei (Testonica Lab, Tallinn, Estonia) ,  Aleksejev Igor (Department of Computer Systems, Tallinn University of Technology, Tallinn, Estonia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： AUTOTESTCON  ページ： 1-9  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 現代の複雑な電子システムにおける高速通信インタフェースボードレベル製造試験のための新しい挑戦をもたらす。高速プロトコルに組み込まれていることをキャリブレーションと誤り訂正の種々の方法は,製造時欠陥,非常に困難な作業である包括的な試験を隠蔽する傾向がある。ギガビットレートで伝送リンクであるいわゆる限界欠陥に特に感受性であった。場のデバイス動作で散発的に生じる可能性のある特定の条件下でのみ現れるとして限界欠陥はしばしば一般的に使用される試験法による検出を回避する。その結果,検出限界欠陥がシステムの安定性に影響し,その全体的な動作マージンを低下させた。本論文では,異常値や周辺デバイスを除くために大量生産環境での利用を意図した新しい埋め込まれた計装ツールボックスを提示した。高速シリアルリンクとDDR3/4界面上の限界欠陥を試験するための装置に焦点を当てた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 誤り訂正 ,  *異常値 ,  計算機周辺装置 ,  電子装置 ,  高速度 ,  大量生産 ,  感受性 ,  プロトコル ,  *スクリーニング ,  製造試験 ,  検出限界
準シソーラス用語： シリアルリンク ,  試験方法 ,  通信インタフェイス ,  *ツールキット , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 電話・データ通信・交換一般  (ND11010T) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  伝送回路理論  (NA02020X) ,  海洋汚濁  (SB02040B) ,  通信理論一般  (ND02010V)

タイトルに関連する用語 (7件)： スクリーニング ,  限界 ,  欠陥 ,  埋込 ,  計装 ,  ツールボックス ,  異常値