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J-GLOBAL ID：201702230363251377   整理番号：17A1835727

シリコンフォトニクス(招待論文)のための量子井戸と量子ドットレーザの信頼性【Powered by NICT】

Reliability of quantum well and quantum dot lasers for silicon photonics (invited)

著者 (6件)： Herrick Robert W. (Intel Corporation, Santa Clara, CA, USA) ,  Jung Daehwan (University of California, Santa Barbara, CA, USA) ,  Liu Alan (University of California, Santa Barbara, CA, USA) ,  Norman Justin (University of California, Santa Barbara, CA, USA) ,  Jan Catherine (Intel Corporation, Santa Clara, CA, USA) ,  Bowers John (University of California, Santa Barbara, CA, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IPC  ページ： 11  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 既存量子井戸InPベースレーザを制限する信頼性問題,およびシリコン基板上に成長させたレーザの過去の信頼性の課題を議論した後,異なるシリコン基板テンプレート上に成長させた量子ドットレーザの異なるタイプの数の最近の信頼性試験結果を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *量子井戸 ,  *レーザ ,  *量子ドットレーザ ,  *信頼性 ,  リン化インジウム ,  信頼性試験
準シソーラス用語： シリコンウエハ ,  *シリコンフォトニクス , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (4件)： シリコンフォトニクス ,  論文 ,  量子井戸 ,  量子ドットレーザ