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J-GLOBAL ID:201702231349818175   整理番号:17A1406941

TLP接合によるCu/Sn/Ni超微細相互接続中の金属間化合物進展に及ぼす熱移動とクロス相互作用の相乗効果

Coupling effect of thermomigration and cross-interaction on evolution of intermetallic compounds in Cu/Sn/Ni ultrafine interconnects undergoing TLP bonding
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巻: 32  号: 16  ページ: 3128-3136  発行年: 2017年08月28日 
JST資料番号: D0987B  ISSN: 0884-2914  CODEN: JMREEE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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過渡液相(TLP)接合は,固体-液体相互拡散接合とも呼ばれ,3次元実装プロセスにおけるチップスタッキングに使用される技術であり,比較的低温で処理できる。また,それは安定な金属間化合物(IMC)が完全に形成された接合により,より高い再溶融温度をもたらす。しかし,その熱拡散と相互作用といった詳細な接合メカニズムには不明な部分が残されている。そこで本研究では,温度勾配下でソルダリング間にCu/Sn/Ni超微細相互接続中のIMCの進化を調査した。コールドエンドとホットエンドにおけるIMCの成長に及ぼす熱拡散(TM)とクロス相互作用の相乗効果を調べた。その結果,生成されるIMCの組成,形態,および厚みはTMとCu-Niクロス相互作用に強く依存するなどから,CuまたはNiのどちらかをホットエンドに置く温度勾配下,Cu/Sn/Ni超微細相互接続のリフローによって,新しいTLP接合プロセスが高速で,Cu3Snを排除しつつ,安定な(Cu,Ni)6Sn5IMCによる接合が可能となった。
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分類 (2件):
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固体デバイス製造技術一般  ,  ろう付 

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