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J-GLOBAL ID：201702232029900288   整理番号：17A1836519

シングルイベント過渡現象(SET)の概要と一般的に使用される電圧コンパレータの総電離線量(TID)試験結果【Powered by NICT】

Compendium of single event transient (SET) and total ionizing dose (TID) test results for commonly used voltage comparators

著者 (2件)： Bozovich Amanda N. (NASA Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, CA 91109 USA) ,  Irom Farokh (NASA Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, CA 91109 USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： NSREC  ページ： 1-21  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本データ概要は宇宙ミッションに使用可能な標的と一般的に使用される市販(COTS)と放射線硬化電圧コンパレータのためのシングルイベントトランジェント(SET)と全イオン化線量(TID)試験結果を報告した。日符号,製造業者,回路設計と試験条件の相違によりこれらの素子の放射特性の変動に見られる興味ある傾向を解析した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *電圧 ,  放射線架橋 ,  *コンパレータ ,  *放射線量 ,  宇宙空間 ,  回路設計 ,  生産者 ,  放射特性 ,  イオン化
準シソーラス用語： 市販品 ,  *総電離線量 ,  *SET【シングルイベント】 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  トランジスタ  (NC03070N) ,  半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (7件)： シングルイベント過渡現象 ,  SET ,  概要 ,  電圧コンパレータ ,  総電離線量 ,  TID ,  試験