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J-GLOBAL ID：201702232497524532   整理番号：17A0522755

静電気力顕微鏡の開発と潜像観察

著者 (2件)： 東尾順平 (トレック・ジャパン) ,  上原利夫 (トレック・ジャパン)
資料名： 静電気学会誌  (Journal of the Institute of Electrostatics Japan)
巻： 41  号： 2  ページ： 85-88  発行年： 2017年03月31日 
JST資料番号： S0175A  ISSN： 0386-2550  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 電子写真の分野では,感光ドラム上の帯電電位測定に表面電位計が用いられている。電子写真技術の高度化に伴い,静電潜像を高分解能で読み取ることが求められている。従来の静電誘導方式に替わるものとして,静電気力顕微鏡について紹介する。具体的には静電気力顕微鏡の特徴との関連で長い針の採用,シールド機構の採用,及び感光体試料の測定に向けての改良との関連で計測の問題,カンチレバー構造の改良,感光体測定フィードバックルーチンの改良,さらに感光体試料の測定との関連で装置構成と手順,実験条件,測定結果にわたって述べる。

シソーラス用語： *力顕微鏡 ,  *力 ,  *潜像 ,  静電気 ,  帯電 ,  *電子写真 ,  静電誘導
準シソーラス用語： *静電気力顕微鏡 ,  *静電気力 ,  *静電潜像 ,  表面電位計 ,  感光体

分類 (3件)： 各種写真法  (ZA03040M) ,  電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C) ,  静電気学,静磁気学  (BD01010C)

引用文献 (7件)：

• http://www.trekinc.com/pdf/3001_Vibrating_Probe.PDF ( accessed 2012-01-19)
• H. Suhara: High-Resolution Measurement of Electrostatic Latent Image Formed on Photoconductor using Electron Beam Probe. Journal of the Imaging Society of Japan, 52 [6] (2013) 501-508
• M. Tani, T. Uehara, K. Nakagawa and A. Itoh: IS & T's NIP13: International Conference on Digital Printing Technologies (1997) 284-288
• T. Uehara, T. Saito, J. Higashio, Y. Ashizawa, K. Nakagawa, A. Itoh: A New Sensor Adjacent Methodology for High Spatial Resolution and High Voltage Measurement. Proc. NIP 2, 27 (2011) 564-567
• 横山 浩,井上貴仁,伊藤順司:走査型マクスウェル応力顕微鏡による表面の電気的イメージング.日本物理学会誌,49[4](1994)281-286

タイトルに関連する用語 (4件)： 静電気力顕微鏡 ,  開発 ,  潜像 ,  観察