Wen Wen について
CAS Key Laboratory of Standardization and Measurement for Nanotechnology, National Center for Nanoscience and Technology, Beijing, 100190, P. R. China について
Wen Wen について
University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, P. R. China について
Zhu Yiming について
CAS Key Laboratory of Standardization and Measurement for Nanotechnology, National Center for Nanoscience and Technology, Beijing, 100190, P. R. China について
Zhu Yiming について
Department of Applied Physics, Chongqing University, Chongqing, 401331, P. R. China について
Liu Xuelu について
State Key Laboratory of Superlattices and Microstructures, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, China について
Hsu Hung-Pin について
Department of Electronic Engineering, Ming Chi University of Technology, Taipei, 243, Taiwan, Republic of China について
Fei Zhen について
State Key Laboratory of Silicon Materials, School of Materials Science and Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, 310027, P. R. China について
Chen Yanfeng について
CAS Key Laboratory of Standardization and Measurement for Nanotechnology, National Center for Nanoscience and Technology, Beijing, 100190, P. R. China について
Wang Xinsheng について
CAS Key Laboratory of Standardization and Measurement for Nanotechnology, National Center for Nanoscience and Technology, Beijing, 100190, P. R. China について
Zhang Mei について
CAS Key Laboratory of Standardization and Measurement for Nanotechnology, National Center for Nanoscience and Technology, Beijing, 100190, P. R. China について
Zhang Mei について
University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, P. R. China について
Lin Kuan-Hung について
Department of Electronic Engineering, National Taiwan University of Science and Technology, Taipei, 106, Taiwan, Republic of China について
Huang Fei-Sheng について
Department of Electronic Engineering, National Taiwan University of Science and Technology, Taipei, 106, Taiwan, Republic of China について
Wang Yi-Ping について
Department of Electronic Engineering, National Taiwan University of Science and Technology, Taipei, 106, Taiwan, Republic of China について
Huang Ying-Sheng について
Department of Electronic Engineering, National Taiwan University of Science and Technology, Taipei, 106, Taiwan, Republic of China について
Ho Ching-Hwa について
Graduate Institute of Applied Science and Technology, National Taiwan University of Science and Technology, Taipei, 106, Taiwan, Republic of China について
Tan Ping-Heng について
State Key Laboratory of Superlattices and Microstructures, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, China について
Jin Chuanhong について
State Key Laboratory of Silicon Materials, School of Materials Science and Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, 310027, P. R. China について
Xie Liming について
CAS Key Laboratory of Standardization and Measurement for Nanotechnology, National Center for Nanoscience and Technology, Beijing, 100190, P. R. China について
Xie Liming について
University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, P. R. China について
Small について
合金化 について
対称性 について
光ルミネセンス について
オプトエレクトロニクス について
電気的性質 について
光学ギャップ について
二次元 について
電子構造 について
カルコゲン化物 について
エレクトロトランスポート について
合金 について
分極 について
結晶格子 について
単分子層 について
異方性 について
改変 について
異方性2次元材料 について
異方性電気輸送 について
偏光Raman分光法 について
レニウム二カルコゲン化物合金 について
調整可能なバンドギャップ について
静電機器 について
塩基,金属酸化物 について
二次電池 について
2次元 について
合金 について
異方性 について
分光法 について
電気的性質 について