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J-GLOBAL ID：201702234712374918   整理番号：17A1038124

自動車半導体試験【Powered by NICT】

Automotive semiconductor test

著者 (2件)： Pateras Steve (Mentor Graphics, United States of America) ,  Tai Ting-Pu (Mentor Graphics, United States of America)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： VLSI-DAT  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ISO-26262と他の自動車エレクトロニクス標準物質の品質と信頼性要求会議はデバイスサイズと複雑さは,成長し続けるより困難になる。RCD工法に使用される細胞を意識したATPG,ハイブリッド圧縮/論理BIST/メモリBISTと診断駆動収率分析のような新しい高度な試験技術が新しい標準への適合性の確保に対するいくつかの鍵となるビルディングブロックを提供する。これらおよび他の先進試験能力の採用は,必要な品質および信頼性測定基準を達成するために半導体メーカの能力を改善するだけでなく,システムレベルで,現場でのこれら顧客が活用できることを埋込み試験能力をデリバリーすることでそれらの生成物をさらに識別することに役立つであろう。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 適応性 ,  標準物質 ,  *自動車 ,  品質 ,  BIST ,  *半導体 ,  信頼性 ,  記憶装置 ,  カーエレクトロニクス ,  生産者
準シソーラス用語： 信頼性測定 ,  ビルディングブロック ,  ATPG ,  RCD工法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 自動車設計・構造・材料一般  (QG03010O) ,  ダム一般  (RC16010D)

タイトルに関連する用語 (2件)： 自動車 ,  試験