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J-GLOBAL ID：201702237383243609   整理番号：17A0427385

原子間力顕微鏡による粒径の簡易な分析と球形成SEBSトリブロックコポリマーフィルムの自由表面に及ぼすその発現

Facile Analysis of Grain Size by Atomic-Force Microscopy and Its Evolution on the Free Surface of a Sphere-Forming SEBS Triblock Copolymer Film

著者 (4件)： BAYOMI Rasha Ahmed Hanafy (Kyoto Inst. of Technol., JPN) ,  HONDA Konomi (Kyoto Inst. of Technol., JPN) ,  SASAKI Sono (Kyoto Inst. of Technol., JPN) ,  SAKURAI Shinichi (Kyoto Inst. of Technol., JPN)
資料名： 日本ゴム協会誌  (Journal of the Society of Rubber Science and Technology, Japan)
巻： 90  号： 3  ページ： 94  発行年： 2017年03月15日 
JST資料番号： G0157A  ISSN： 0029-022X  CODEN： NGOKAF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *SEBS ,  トリブロック共重合体 ,  *有機材料 ,  自由表面 ,  球状 ,  粒径 ,  原子間力顕微鏡
準シソーラス用語： *有機薄膜

分類 (2件)： ゴム  (YH07020M) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

タイトルに関連する用語 (9件)： 原子間力顕微鏡 ,  粒径 ,  分析 ,  球 ,  SEBS ,  トリブロックコポリマー ,  フィルム ,  自由表面 ,  発現