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J-GLOBAL ID：201702238000903216   整理番号：17A0998044

精密ろ過と限外ろ過への応用のためのコロイドナノ粒子の濃度測定法の評価:誘導プラズマ-質量分析,ナノ粒子追跡分析及びエレクトロスプレイ走査移動度粒径測定器【Powered by NICT】

Evaluation of concentration measurement techniques of colloidal nanoparticles for microfiltration and ultrafiltration applications: Inductively coupled plasma-mass spectrometry, nanoparticle tracking analysis and electrospray-scanning mobility particle sizer

著者 (6件)： Lee Handol (Particle Technology Laboratory, Mechanical Engineering, University of Minnesota, 111 Church St., S.E., Minneapolis 55455, USA) ,  Chen Sheng-Chieh (Particle Technology Laboratory, Mechanical Engineering, University of Minnesota, 111 Church St., S.E., Minneapolis 55455, USA) ,  Kim Changhyuk (Particle Technology Laboratory, Mechanical Engineering, University of Minnesota, 111 Church St., S.E., Minneapolis 55455, USA) ,  Westenburg Ellen (Entegris Inc., 101 Peavey Road, Chaska, Minneapolis 55318, USA) ,  Moon Sung In (Entegris Inc., 101 Peavey Road, Chaska, Minneapolis 55318, USA) ,  Pui David Y.H. (Particle Technology Laboratory, Mechanical Engineering, University of Minnesota, 111 Church St., S.E., Minneapolis 55455, USA)
資料名： Separation and Purification Technology  (Separation and Purification Technology)
巻： 184  ページ： 34-42  発行年： 2017年 
JST資料番号： T0428B  ISSN： 1383-5866  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 液体ろ過の効率を決定するための三種液体中粒子濃度測定法,誘導結合プラズマ質量分析(ICP MS),ナノ粒子追跡分析(NTA)及びエレクトロスプレイ走査移動度粒径測定器(ES SMPS)を含む,それらの適用性と実現可能性のために研究し,比較した。これらの方法は,最初の5~50nmの種々のサイズの市販Auモノスフェアと20から125nmまでのNISTのいくつかのサイズ追跡可能なポリスチレンラテックス(PSL)を使用して較正した。検量結果は,メーカーによって提供されたそれに対応する液体中粒子の濃度は,すべてのこれらの方法で測定された濃度に比例することを示した。キャリブレーション結果は,0.1μm細孔径ポリカーボネートトラックエッチング(PCTEまたはNucleporeフィルタ)膜フィルタ,デッドエンド型ろ過として実施した,AuとPSLナノ粒子の濾過効率を決定するために用いた。は同じ条件下で異なる測定法で得られた濾過効率は互いに同等であったことが分かった。本研究の結果は,異なる環境下で液体中粒子ろ過のための最適な手法を選択することにおいて非常に有用な指針を提供する。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *質量分析 ,  フィルタ ,  *ナノ粒子 ,  *走査 ,  *精密濾過 ,  *濃度測定 ,  *移動度 ,  *限外濾過 ,  金 ,  ICP-MS分析 ,  *誘導結合プラズマ ,  細孔径 ,  *粒度分析 ,  *コロイド
準シソーラス用語： *エレクトロスプレイ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 精密ろ過 ,  限外ろ過 ,  誘導結合プラズマ質量分析 ,  ナノ粒子追跡解析 ,  エレクトロスプレイ走査型移動度粒径測定器 ,  粒径分布

分類 (2件)： 膜分離  (XD02120Z) ,  空気浄化  (PC02060X)

タイトルに関連する用語 (15件)： 精密ろ過 ,  限外ろ過 ,  応用 ,  コロイド ,  ナノ粒子 ,  濃度測定 ,  評価 ,  誘導プラズマ ,  質量分析 ,  粒子追跡 ,  分析 ,  エレクトロスプレイ ,  走査 ,  移動度 ,  粒径測定