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J-GLOBAL ID：201702238141540020   整理番号：17A0861154

電子後方散乱回折法を用いた面心立方晶耐熱合金の局所クリープ歪みの評価

Evaluation of Local Creep Strain in Face-centred Cubic Heat-resistant Alloys Using Electron Backscattered Diffraction Analysis

著者 (4件)： Yamasaki Shigeto (Department of Engineering Sciences for Electronics and Materials, Kyushu University) ,  Mitsuhara Masatoshi (Department of Engineering Sciences for Electronics and Materials, Kyushu University) ,  Nakashima Hideharu (Department of Engineering Sciences for Electronics and Materials, Kyushu University) ,  Yonemura Mitsuharu (Amagasaki R&D Center, Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation)
資料名： ISIJ International (Iron and Steel Institute of Japan)  (ISIJ International (Iron and Steel Institute of Japan))
巻： 57  号： 5  ページ： 851-856(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： F0100A  ISSN： 0915-1559  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： SUS347HTBオーステナイト系耐熱鋼とNi系耐熱合金のクリープ歪みを電子後方散乱回折(EBSD)により評価した。クリープ試料中の局在化した結晶学的な方位差は,カーネル平均方位差(KAM)および結晶粒基準方位偏差(GROD)のような結晶方位差指標を用いて定量化した。ほとんどのクリープ試料では,クリープ変形に伴って誤配向指標が増加した。しかし,この傾向は,補強相を密度分散した合金では観察されなかった。我々は,全EBSDデータから粒界付近のデータのみを抽出して評価する方法を提案した。Ni基合金では,方位差指数は結晶粒界の近くで優先的に増加する傾向があった。逆に,SUS347HTBの粒界近傍の方位差指標と粒内領域のそれとの間には,実質的な差はなかった。したがって,材料中の補強相の分散密度に応じて,方位差指標を評価する領域を限定する必要があるが,このような方位差指標,例えば,KAMやGRODは,面心立方晶系の耐熱合金におけるクリープ歪みの評価に有効であった。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *オーステナイト系ステンレス鋼 ,  *耐熱鋼 ,  *ニッケル合金 ,  *超合金 ,  FCC金属 ,  電子回折 ,  後方散乱 ,  結晶方位 ,  配向 ,  *指標 ,  *歪 ,  *クリープ ,  分散【dispersion】 ,  結晶粒界 ,  パターン認識 ,  *微細構造
準シソーラス用語： EBSD法 ,  Kernel法 ,  クリープ歪 ,  *ミスオリエンテーション ,  強化相

著者キーワード (6件)： austenitic heat-resistant steel ,  nickel-based heat-resistant alloy ,  creep ,  damage evaluation ,  electron back-scattered diffraction (EBSD) ,  grain boundary

分類 (2件)： 機械的性質  (WB02030U) ,  組織的硬化現象  (WB01020C)

引用文献 (14件)：

• 1) R. Viswanathan: Damage Mecahisms and Life Assessment of High-temperature Components, ASM International, Metals Park, OH, (1995), 1.
• 2) S. Komazaki, T. Honda, T. Sakamura, K. Sawada, K. Kimura and Y. Kohno: Tetsu-to-Hagané, 96 (2010), 614.
• 3) K. Maruyama, K. Sawada and J. Koike: ISIJ Int., 41 (2001), 641.
• 4) H. Tanaka, F. Abe, K. Yagi and T. Sugita: Tetsu-to-Hagané, 84 (18), 303.
• 5) D. N. Githinji, S. M. Northover, P. J. Bouchard and M. A. Rist: Metall. Mater. Trans. A, 44A (2013), 4150.

タイトルに関連する用語 (5件)： 電子後方散乱回折法 ,  立方晶 ,  耐熱合金 ,  クリープ歪み ,  評価