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J-GLOBAL ID：201702238950329068   整理番号：17A1186008

高速TEM歪作用実験のためのフェムト秒レーザ加工とイオンミリングによるTEM試料調製【Powered by NICT】

TEM sample preparation by femtosecond laser machining and ion milling for high-rate TEM straining experiments

著者 (7件)： Voisin Thomas (Dept. of Materials Science and Engineering, Johns Hopkins University, Baltimore, MD 21218, USA) ,  Grapes Michael D. (Dept. of Materials Science and Engineering, Johns Hopkins University, Baltimore, MD 21218, USA) ,  Zhang Yong (Dept. of Mechanical Engineering, Johns Hopkins University, Baltimore, MD 21218, USA) ,  Lorenzo Nicholas (US Army Research Laboratory, Aberdeen Proving Ground, Aberdeen, MD 21005, USA) ,  Ligda Jonathan (US Army Research Laboratory, Aberdeen Proving Ground, Aberdeen, MD 21005, USA) ,  Schuster Brian (US Army Research Laboratory, Aberdeen Proving Ground, Aberdeen, MD 21005, USA) ,  Weihs Timothy P. (Dept. of Materials Science and Engineering, Johns Hopkins University, Baltimore, MD 21218, USA)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 175  ページ： 1-8  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高歪速度での金属の機械的性質をモデル化するために,ナノスケールでの変形を可視化し,理解することが重要である。死後の透過型電子顕微鏡(TEM),変形前または後の試料内の欠陥を解析することを可能にすると異なり,その場TEMは変形のイメージング・記録と機械的負荷中の関係した欠陥運動を可能にする強力なツールである。残念なことに,全ての電流in situ TEM機械的試験法は準静的歪速度に限られている。これに関連して,Lawrence Livermore国立研究所(LLNL)で急速ひずみ段階及び動的TEM(DTEM)を利用する新しい試験法を開発している。新しい歪段階は曲げで動作する二つの圧電アクチュエータを用いた4×10~3秒の高歪速度で引張試料を負荷できるLLNLにおけるDTEMは70nsの短い時間分解能をもつ映画モードで画像化できる。圧電アクチュエータは力,速度,変位が限られているから,著者らは適用歪速度を向上させる負荷応力と短いゲージ長さを増加させ,変形の領域を制限するための小断面積TEM試料を作製する方法を開発した。本論文では,そのようなバルク物質からの試料を作製するための我々の努力を提示した。新規試料調製法は,フェムト秒レーザ加工とイオンミリングを組み合わせた電子透明域のサイズと位置だけでなく,ゲージ断面積と長さの両方を制御した300μm幅試料を得た。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *試料調製 ,  ゲージ ,  画像処理 ,  断面積 ,  歪速度 ,  可視化 ,  *フェムト秒レーザ ,  時間分解能 ,  機械的性質 ,  透過型電子顕微鏡 ,  *イオンエッチング ,  モデリング
準シソーラス用語： 圧電アクチュエータ ,  ナノスケール ,  高ひずみ速度 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： フェムト秒レーザ加工 ,  in situ透過型電子顕微鏡観察 ,  動的TEM ,  試料調製 ,  高歪速度

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (6件)： TEM ,  歪 ,  実験 ,  フェムト秒レーザ加工 ,  イオンミリング ,  試料調製