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J-GLOBAL ID：201702239557173710   整理番号：17A1637420

混合信号集積回路の複雑な機能障害を解析するための動的電流モニタリングとプローブレーザシミュレーション戦略【Powered by NICT】

Dynamic current monitoring and probe laser simulation strategy to analyse complicated functional failure on mixed signal integrated circuit

著者 (4件)： Wen Gaojie (Product Analysis Lab, NXP Semiconductor, Tian Jin, China) ,  Li Xiaocui (Product Analysis Lab, NXP Semiconductor, Tian Jin, China) ,  Tian Li (Product Analysis Lab, NXP Semiconductor, Tian Jin, China) ,  Ren Jun (Product Analysis Lab, NXP Semiconductor, Tian Jin, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IPFA  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 静的条件(静的漏れとスタンバイ電流レベル)失敗したデバイスの故障解析は根本原因を見出すために,長い時間をコストないが,動的機能障害も改善するであろう。故障点を局在化するための動的戦略を用いた故障解析は複雑な機能失敗したIC(集積回路)でより顕著であった。プローブレーザシミュレーション分析と組み合わせた失敗したブロックまたは信号に及ぼす動的電流モニタリングを用いた欠陥を発見する効率的な戦略を提示するであろう。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *集積回路 ,  *機能障害 ,  故障 ,  *電流 ,  故障解析
準シソーラス用語： 局在化 ,  根本原因 ,  スタンバイ電流 ,  *混合信号 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (6件)： 混合信号 ,  集積回路 ,  機能障害 ,  解析 ,  モニタリング ,  戦略