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J-GLOBAL ID：201702240830814597   整理番号：17A1635781

電力変換器最適化のための新しい半導体スイッチ試験プラットフォーム【Powered by NICT】

A novel semiconductor switch test platform for power converter optimization

著者 (3件)： Guo Zhicheng (Solar Thermal Technology and Photovoltaic System Laboratory, Chinese Academy of Sciences, China) ,  Cao Guoen (Solar Thermal Technology and Photovoltaic System Laboratory, Chinese Academy of Sciences, China) ,  Wang Yibo (Solar Thermal Technology and Photovoltaic System Laboratory, Chinese Academy of Sciences, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICEMS  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,異なるスイッチング電流波形の下での電力半導体を試験することを可能にする電力変換器最適化のための新しい半導体スイッチ試験プラットフォームを提示した。そのスイッチング電流は電力用半導体のスイッチング挙動とスイッチング損失に大きな影響を及ぼす。線形電流波形の下での電力半導体を試験のみが可能な従来型二重パルス試験回路と比較して,提案された試験プラットフォームはスイッチを制御することによりプログラマブル電流源を提供することができる。SiC MOSFETから測定した実験結果は,従来の回路上のテストプラットフォームの有効性を検証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *電力変換器 ,  *最適化 ,  MOSFET ,  パルス ,  *電力 ,  *半導体 ,  テスト構造 ,  炭化ケイ素 ,  *スイッチ ,  スイッチング損失 ,  スイッチング
準シソーラス用語： 電流源 ,  スイッチング電流 ,  電流波形 ,  *半導体スイッチ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 電力変換器  (NB08030B) ,  トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電力変換器 ,  最適化 ,  半導体スイッチ ,  試験 ,  プラットフォーム