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J-GLOBAL ID：201702241373898416   整理番号：17A1142039

その場電子顕微鏡法によるモリブデンナノ接点のパルス通電非晶質化の観察

著者 (3件)： 中西真之 (筑波大) ,  鈴木泰周 (筑波大) ,  木塚徳志 (筑波大)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 78th  ページ： ROMBUNNO.8p-C14-2  発行年： 2017年08月25日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 点接触 ,  その場観察 ,  電気伝導 ,  電子顕微鏡観察 ,  チップ ,  エレクトロマイグレーション ,  抵抗加熱 ,  破断 ,  格子像 ,  *モリブデン ,  アモルファス化 ,  結晶化 ,  *ナノチップ ,  ナノ接触
準シソーラス用語： Joule加熱 ,  *パルス通電 ,  非晶質化

分類 (1件)： 金属の表面構造  (BK15020P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 電子顕微鏡法 ,  モリブデン ,  ナノ接点 ,  パルス通電 ,  非晶質化 ,  観察