文献

J-GLOBAL ID：201702241538824263   整理番号：17A1729857

ULPビットセルとオンチップ適応逆バイアス発生を伴う28fJ/bitアクセスエネルギーを達成する28nm FDSOIにおける80MHz0.4V ULV SRAMマクロ【Powered by NICT】

An 80-MHz 0.4V ULV SRAM macro in 28nm FDSOI achieving 28-fJ/bit access energy with a ULP bitcell and on-chip adaptive back bias generation

著者 (6件)： Haine Thomas (ICTEAM Institute, Electronic Circuits and Systems (ECS), Universite ́ catholique de Louvain, Louvain-la-Neuve, Belgium) ,  Nguyen Quoc-Khoi (ICTEAM Institute, Electronic Circuits and Systems (ECS), Universite ́ catholique de Louvain, Louvain-la-Neuve, Belgium) ,  Stas Francois (ICTEAM Institute, Electronic Circuits and Systems (ECS), Universite ́ catholique de Louvain, Louvain-la-Neuve, Belgium) ,  Moreau Ludovic (ICTEAM Institute, Electronic Circuits and Systems (ECS), Universite ́ catholique de Louvain, Louvain-la-Neuve, Belgium) ,  Flandre Denis (ICTEAM Institute, Electronic Circuits and Systems (ECS), Universite ́ catholique de Louvain, Louvain-la-Neuve, Belgium) ,  Bol David (ICTEAM Institute, Electronic Circuits and Systems (ECS), Universite ́ catholique de Louvain, Louvain-la-Neuve, Belgium)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ESSCIRC  ページ： 312-315  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,著者らは法外な漏れのない密度と速度の低V_t(LVT)トランジスタを用いることが可能な7 T ULPビットセルに基づく28nm FDSOIにおける超低電圧(ULV)SRAMを提案した。保持は二CMOS負性微分抵抗(NDR)構造に基づいている。重要度サンプリング(IS)法のおかげで,提案したビットセルは,8kBマクロのための低故障率に達する能力を決められた。プロセス電圧温度(PVT)補償は,適応逆バイアス(ABB)発生器によるオンチップを行った。0.4Vでは,提案したSRAMは,80MHzで動作し,閉ループ動作におけるABB発電機を含む28fJ/bitのアクセスエネルギーに達した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電圧 ,  トランジスタ ,  CMOS ,  故障率 ,  *SRAM
準シソーラス用語： 重要度サンプリング ,  負性微分抵抗 ,  低電圧 ,  *FDSOI ,  *逆バイアス ,  *オンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (11件)： ビット ,  セル ,  オンチップ ,  適応 ,  逆バイアス ,  BIT ,  アクセス ,  エネルギー ,  FDSOI ,  SRAM ,  マクロ