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J-GLOBAL ID：201702241671684163   整理番号：17A0629445

電子線による位相イメージングの現状 原子分解能微分位相コントラストSTEM法の理論

著者 (7件)： 関岳人 (東大 大学院工学系研究科 総合研究機構) ,  SANCHEZ-SANTOLINO Gabriel (東大 大学院工学系研究科 総合研究機構) ,  石川亮 (東大 大学院工学系研究科 総合研究機構) ,  幾原雄一 (東大 大学院工学系研究科 総合研究機構) ,  幾原雄一 (ファインセラミックスセ ナノ構造研) ,  柴田直哉 (東大 大学院工学系研究科 総合研究機構) ,  柴田直哉 (ファインセラミックスセ ナノ構造研)
資料名： 顕微鏡  (Microscopy)
巻： 52  号： 1  ページ： 8-12  発行年： 2017年04月30日 
JST資料番号： Y0541A  ISSN： 1349-0958  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 微分位相コントラスト法は,走査型透過電子顕微鏡法の一種であり,方位角方向に分割した検出器やピクセル型検出器を用いることで,試料各点における電子線の偏向量を計測し,試料内部の電磁場を実空間観察する手法である。この手法は,これまで主に中低倍(nmからサブμm)における材料内部の磁場構造観察に応用されてきたが,近年,この微分位相コントラスト法を原子分解能観察に応用することで,原子電場の直接観察が試みられている。本稿では,原子分解能微分位相コントラスト法の理論と今後の展望について紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *画像処理 ,  電子顕微鏡観察 ,  *透過型走査電子顕微鏡 ,  分解能 ,  伝達関数 ,  検出器
準シソーラス用語： *位相イメージング ,  STEM【顕微鏡】 ,  原子分解能 ,  位相コントラスト電子顕微鏡

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (13件)：

• Dekkers, N.H. and de Lang, H.: Optik, 41, 452-456 (1974)
• Shibata, N., Findlay, S.D., Kohno, Y., Sawada, H., Kondo, Y. and Ikuhara, Y.: Nat. Phys., 8,611-615 (2012)
• Shibata, N., Findlay, S.D., Sasaki, H., Matsumoto, T., Sawada, H., Kohno, Y., Otomo, S., Minato, R. and Ikuhara, Y.: Sci. Rep., 5, 10040 (2015)
• Lohr, M., Schregle, R., Jetter, M., Wächter, C., Wunderer, T., Scholz, F. and Zweck, J.: Ultramicroscopy, 117, 7-14 (2012)
• Chapman, J., Ploessl, R. and Donnet, D.: Ultramicroscopy, 47, 331-338 (1992)

タイトルに関連する用語 (8件)： 電子線 ,  位相イメージング ,  現状 ,  原子分解能 ,  微分 ,  位相コントラスト ,  STEM ,  理論