キャプチャセーフテストベクトル操作に基づく低キャプチャパワーテスト生成法

HOSOKAWA Toshinori; HIRAI Atsushi; YAMAUCHI Yukari; ARAI Masayuki

文献

J-GLOBAL ID：201702242011627481 整理番号：17A1619390

キャプチャセーフテストベクトル操作に基づく低キャプチャパワーテスト生成法

A Low Capture Power Test Generation Method Based on Capture Safe Test Vector Manipulation

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資料名：
巻： E100.D 号： 9 ページ： 2118-2125(J-STAGE) 発行年： 2017年
JST資料番号： U0469A ISSN： 1745-1361 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

高速走査試験において,キャプチャパワーは,テストベクトルに対する応答がフリップフロップにより捉えられ,IRドロップとして知られる過剰な電圧降下となるときに発生し得る高電力消費のために重大な問題であり,これはキャプチャ誘起収率損失を起こす。低キャプチャパワーテスト生成において,初期テスト集合においてキャプチャパワー制約を破るテストベクトルを,キャプチャ非セーフテストとして定義し,一方キャプチャアンセーフテストベクトルによるだけで検出される障害を,アンセーフ障害として定義する。不要な収率損失を防止するために,アンセーフ障害を検出するために用いるテストベクトルの生成は,必要である。本論文では,初期テスト集合においてキャプチャセーフテストベクトルを用いる障害シミュレーションに基づく新しい低キャプチャパワーテスト生成法を提案した。実験結果により,本方法の使用は,アンセーフ障害の数を94%低減し,一方,平均で丁度18%多くの追加テストベクトルが必要であり,従来の低キャプチャパワーテスト生成法と比較してより少ないテスト生成時間が必要であった。(翻訳著者抄録)

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その他の計算機利用技術

引用文献 (25件)：

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