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J-GLOBAL ID：201702242264591658   整理番号：17A1266927

フォトニックSiGe BiCMOS技術における>30GHzと<30fsのジッタの帯域幅をもつモノリシック集積化光クロック10GS/s試料採取器【Powered by NICT】

A monolithically integrated, optically clocked 10 GS/s sampler with a bandwidth of >30 GHz and a jitter of <30 fs in photonic SiGe BiCMOS technology

著者 (9件)： Krueger B. (Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG, Munich, Germany) ,  Makon R. E. (Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG, Munich, Germany) ,  Landolt O. (Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG, Munich, Germany) ,  Hidri O. (Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG, Munich, Germany) ,  Schweiger T. (Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG, Munich, Germany) ,  Krune E. (Technische Universitaet Berlin, Berlin, Germany) ,  Knoll D. (Innovations for High-Performance Microelectronics (IHP), Frankfurt/Oder, Germany) ,  Lischke S. (Innovations for High-Performance Microelectronics (IHP), Frankfurt/Oder, Germany) ,  Schulze J. (University of Stuttgart, Institute for Semiconductor Engineering, Stuttgart, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： CICC  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： フォトニック0.25μm SiGe-BiCMOS技術におけるモノリシックに集積した光クロック10GS/sサンプラー,電気信号をサンプリングするためにハイブリッドモード同期レーザにより発生した超安定光パルス列を用いたを示した。集積回路は,光導波路,回折格子結合器,>50GHzの帯域幅をもつゲルマニウムフォトダイオード,積分ダンプ試料採取器を含んでいる。実験結果は,30GHzを超えるアナログ帯域幅,ジッタ<30fsの全帯域幅にわたり< 33dBのTHD(全高調波歪),および35.3dBのSNRを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： モード同期レーザ ,  *クロック ,  パルス列 ,  積分 ,  集積回路 ,  *ジッタ ,  アナログ系 ,  電気信号 ,  光導波路 ,  *帯域幅
準シソーラス用語： 全高調波歪 ,  格子結合器 ,  *モノリシック集積化 ,  *SiGe BiCMOS , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 光変調器  (BD06020W) ,  光導電素子  (NC03083X)

タイトルに関連する用語 (7件)： SiGe ,  BiCMOS ,  ジッタ ,  帯域幅 ,  モノリシック集積化 ,  クロック ,  試料採取器