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J-GLOBAL ID：201702243203352225   整理番号：17A0747955

走査型電子顕微鏡像代表性:ナノ粒子の形態学的データ【Powered by NICT】

Scanning electron microscopy image representativeness: morphological data on nanoparticles

著者 (7件)： ODZIOMEK KATARZYNA (Laboratory of Environmental Chemometrics, Faculty of Chemistry, University of Gdansk, Gdansk, Poland) ,  ODZIOMEK KATARZYNA (Computational Research Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California, U.S.A.) ,  USHIZIMA DANIELA (Computational Research Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California, U.S.A.) ,  OBERBEK PRZEMYSLAW (Materials Design Division, Faculty of Materials Science and Engineering, Warsaw University of Technology, Warsaw, Poland) ,  KURZYDLOWSKI KRZYSZTOF JAN (Materials Design Division, Faculty of Materials Science and Engineering, Warsaw University of Technology, Warsaw, Poland) ,  PUZYN TOMASZ (Laboratory of Environmental Chemometrics, Faculty of Chemistry, University of Gdansk, Gdansk, Poland) ,  HARANCZYK MACIEJ (Computational Research Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California, U.S.A.)
資料名： Journal of Microscopy  (Journal of Microscopy)
巻： 265  号： 1  ページ： 34-50  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0454B  ISSN： 0022-2720  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノ材料の試料は様々な形状やサイズのナノ粒子の分布を含んでいる。このような試料の走査電子顕微鏡画像は,試料中に存在する形態学的品種のフラグメントのみを捉えることが多い。走査電子顕微鏡を用いたディジタル画像試料を定量的に解析し,特に,試料形態の数値表現を導出するために,画像コンテンツを評価しなければならない。本研究では,コンピュータビジョンのアルゴリズムを用いた走査型電子顕微鏡画像に含まれる形態学的情報を抽出するための,数値粒子記述子に変換するためのフレームワークを提案した。画像代表性の概念を探索し,最適走査電子顕微鏡像の選択はもちろんのこと,形態学的特徴の各々に対して最小の代表的な画像集合を決定するための集合プロトコルを提供する。はリン酸三カルシウム,Ca_3(PO_4)2,及びカルシウムヒドロキシりん酸,Ca_5(PO_4)3(OH),広範囲の生物医学的応用の双方ともに自然に存在する鉱物を調べることにより著者らの方法の実用的な側面を実証した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 画像 ,  ナノ材料 ,  カルシウム ,  *走査電子顕微鏡 ,  リン酸 ,  コンピュータビジョン ,  *ナノ粒子 ,  プロトコル ,  アルゴリズム ,  *モルフォロジー ,  ディジタル画像 ,  鉱物
準シソーラス用語： リン酸三カルシウム ,  映像コンテンツ ,  SEM画像 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： セラミックス ,  のナノ粒子 ,  代表性

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  粒状物調査測定  (SB03060E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 走査型電子顕微鏡 ,  ナノ粒子 ,  形態学