文献

J-GLOBAL ID：201702243323276724   整理番号：17A0659256

植物試料からの樹脂切片の後方散乱電子SEMイメージング:組織学的に細胞内構造とCLEMの観察【Powered by NICT】

Backscattered electron SEM imaging of resin sections from plant specimens: observation of histological to subcellular structure and CLEM

著者 (4件)： RIZZO N.W. (DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.) ,  DUNCAN K.E. (DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.) ,  BOURETT T.M. (DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.) ,  HOWARD R.J. (DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
資料名： Journal of Microscopy  (Journal of Microscopy)
巻： 263  号： 2  ページ： 142-147  発行年： 2016年 
JST資料番号： B0454B  ISSN： 0022-2720  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 約130 70000X,の連続倍率と組織及び細胞内微細構造詳細の文書での観測を可能にする走査型電子顕微鏡における生物学的試料調製と低電圧後方散乱電子イメージングのための洗練された方法を示した。Oguraと長谷川(1980)による初期の研究に基づいて,技術である透過型電子顕微鏡で可能なよりも固定とレジン包埋試料からの著しく大きな断面の使用を与える類似のデータを提供した。ミクロトーム後,典型的には750nm厚約,断面は,ガラスやシリコンウエハの表面上に乾燥し,グリッド回避の金属の使用はで染色した。ガラス/ウエハサポートは,標準的な走査電子顕微鏡試料スタブ,炭素被覆と5kVの加速電圧で直接画像化に取り付け,イットリウムアルミニウムガーネットまたはE×B後方散乱電子検出器を用いた。切片を光学顕微鏡による最初の展望,例えば蛍光蛋白質から文書信号への,そして相関光/電子顕微鏡(CLEM)データを提供するために,走査電子顕微鏡によるものであろう。これらの方法は,大きさ7×10mm約断面の空間コンテキストにおける超微細構造への障害物のないアクセスを提供する,通常の透過型電子顕微鏡イメージングのための用いられる典型的な0.2×0.3mmより有意に大きかった。このアプローチの適用は,特に有用である関心の生物学は稀であった,例えば特定の細胞型,発生段階,大きな臓器,相互作用する生物の細胞,組織内の文脈情報が必須の場合の間の界面,またはこれらの因子の組合せが困難な場合。さらに,方法は免疫局在に容易に適用した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 走査電子顕微鏡 ,  イットリウムアルミニウムガーネット ,  ミクロトーム ,  *後方散乱 ,  界面 ,  電子顕微鏡 ,  生体試料 ,  ガラス ,  *画像処理 ,  光学顕微鏡 ,  微細構造 ,  透過型電子顕微鏡
準シソーラス用語： 超微細構造 ,  画像化 ,  加速電圧 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 生物学的超微細構造 ,  BSE ,  相関光と電子顕微鏡観察 ,  FESEM ,  免疫局在性 ,  走査型電子顕微鏡観察

分類 (1件)： 生体の顕微鏡観察法  (EA03050C)

タイトルに関連する用語 (8件)： 植物 ,  試料 ,  後方散乱 ,  電子 ,  SEM ,  イメージング ,  組織学 ,  観察