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J-GLOBAL ID：201702243815586520   整理番号：17A0321454

ステップストレス加速劣化試験における白色光LEDのルーメン分解モデリング【Powered by NICT】

Lumen degradation modeling of white-light LEDs in step stress accelerated degradation test

著者 (7件)： Huang Jianlin (Beijing Research Center, Delft University of Technology, Beijing 100083, China) ,  Golubovic Dusan S (Lumileds Commercial (Shanghai) Co., Ltd, Shanghai 200233, China) ,  Koh Sau (Beijing Research Center, Delft University of Technology, Beijing, 100083, China) ,  Yang Daoguo (Guilin University of Electronic Technology, Guangxi 541004, China) ,  Li Xiupeng (Philips Lighting, Shanghai 200233, China) ,  Fan Xuejun (State Key Laboratory of Solid State Lighting, Beijing 100083, PR China) ,  Zhang G.Q. (Delft University of Technology, CT 2628, Delft, the Netherlands)
資料名： Reliability Engineering & System Safety  (Reliability Engineering & System Safety)
巻： 154  ページ： 152-159  発行年： 2016年 
JST資料番号： D0980B  ISSN： 0951-8320  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,内腔分解は中間電力白色LEDパッケージ,ステップストレス加速劣化試験(SSADT)下で時効させて数値計算を修正Brown運動プロセスを用いて記述した。SSADTモデルは等価累積損傷の理論に基づいて確立した。推定量を修正することによってパラメータ推定の精度を改善する方法を提案した,これは以前の研究で提案した。実験データはSSADTモデルを用いて推定されたパラメータが一定応力加速劣化試験(CSADT)モデルを用いて推定したもの,SSADTモデルの実現可能性を示しに非常に近いことを示した。実験もSSADTはCSADTの代替として使用できることを示し,それは同程度の推定精度を可能にするので,試験時間,より小さなサンプルサイズとより少ない試験能力を用いた。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 加速試験 ,  *白色光 ,  時効 ,  推定量 ,  *モデリング ,  発光ダイオード ,  数値計算 ,  パラメータ推定 ,  電力 ,  Brown運動
準シソーラス用語： *劣化試験 ,  推定精度 ,  累積損傷 ,  白色LED ,  *加速劣化試験 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 加速試験 ,  Brown運動 ,  劣化試験 ,  発光ダイオード ,  ステップ応力 ,  Wiener過程

分類 (1件)： 信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (7件)： ストレス ,  加速劣化試験 ,  白色光 ,  LED ,  ルーメン ,  分解 ,  モデリング