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J-GLOBAL ID：201702245043269912   整理番号：17A1139520

TEM観察下でのFM-AFMを用いた金ナノ接点のヤング率測定

著者 (5件)： 石塚慧介 (北陸先端科学技術大学院大) ,  村上拓 (金沢大 大学院) ,  大島義文 (北陸先端科学技術大学院大) ,  富取正彦 (北陸先端科学技術大学院大) ,  新井豊子 (金沢大 大学院)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 78th  ページ： ROMBUNNO.6a-S44-5  発行年： 2017年08月25日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電気接点 ,  ナノ構造 ,  *Young率 ,  強磁性体 ,  反強磁性体 ,  電子顕微鏡観察 ,  ナノワイヤ
準シソーラス用語： *ナノ接点

分類 (1件)： 電気接点  (NA05070V)

タイトルに関連する用語 (5件)： TEM観察 ,  FM-AFM ,  金 ,  ナノ接点 ,  ヤング率