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J-GLOBAL ID：201702245207160165   整理番号：17A1036288

28nmH KMG技術を用いた適応加速劣化【Powered by NICT】

Adaptive accelerated aging with 28nm HKMG technology

著者 (7件)： Patra Devyani (School of ECEE, Arizona State University, Tempe, AZ) ,  Reza Ahmed Kamal (School of ECE, Purdue University, West Lafayette, IN) ,  Hassan Mohammed Khaled (School of ECE, Purdue University, West Lafayette, IN) ,  Katoozi Mehdi (The Boeing Company, Seattle, WA) ,  Cannon Ethan H. (The Boeing Company, Seattle, WA) ,  Roy Kaushik (School of ECE, Purdue University, West Lafayette, IN) ,  Cao Yu (School of ECEE, Arizona State University, Tempe, AZ)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IRPS  ページ： CR-2.1-CR-2.4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： デバイスと回路の信頼性解析は,寿命の直接検証を欠いていた。通常,デバイスにおける劣化は,短期測定から外挿し,寿命の終わり(EOL)の信頼できない予測をもたらした。本研究では,迅速で制御可能な方法で寿命の終わりまで装置を試験するための新しいアプローチを提供することである。本研究の寄与は以下のとおりである:(1)適応加速劣化(AAA),(2)複数のストレス条件の試験条件,1時間におけるEOLを達成するためのそれらを含めた研究,及び(3)を呈したシミュレーションと試験結果28nmでは,提案した方法を検証するために呼ばれる試験法の導入。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *劣化
準シソーラス用語： 試験方法 ,  回路信頼性 ,  加速劣化 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 資源回収利用  (SC05060V) ,  研究開発  (SA01040R)

タイトルに関連する用語 (2件)： 適応 ,  加速劣化